2638B在电流和电压测量上展现出令人惊叹的精度。在半导体器件的研发中，微小的电流和电压变化往往蕴含着关键信息。以测量纳米级半导体器件的漏电流为例，其电流测量精度可达皮安（pA）级，能够精准捕捉到极其微弱的电流信号，偏差控制在极小范围，为研究人员评估器件的性能和可靠性提供了无可替代的数据基础。在电压测量方面，精度同样卓越，可满足对半导体电路中各种电压信号的精确测量需求，确保在复杂的半导体测试环境下，也能获取准确无误的测量结果。
具备宽动态范围，从极低的电流、电压值到相对较高的值，都能实现高精度测量。在测试不同类型的半导体器件时，无论是低功耗的CMOS芯片，还是高功率的功率半导体，2638B都能游刃有余。在对功率半导体进行测试时，它可以在大电流、高电压条件下稳定工作，准确测量器件的导通电阻、关断时间等关键参数，同时在小信号测量时也能保持极高的精度，确保对半导体器件的全面性能评估准确可靠。
2638B集成了多种实用的测量模式，除了基本的源电压 - 测量电流（V - I）、源电流 - 测量电压（I - V）模式外，还支持脉冲测量、扫描测量等功能。在半导体材料的特性研究中，扫描测量模式可用于绘制材料的I - V曲线，帮助科研人员深入了解材料的电学特性。而脉冲测量模式则适用于测试半导体器件在短时间、高功率脉冲下的性能表现，如对高速开关器件的测试，能够有效评估其在实际工作中的可靠性。
拥有强大的数据记录与分析功能，能够实时记录测量过程中的各项数据，并通过配套软件进行深度分析。在半导体芯片的量产测试中，大量的测试数据需要高效处理和分析，2638B可以快速记录每个芯片的测试数据，生成详细的测试报告，通过数据分析找出生产过程中的潜在问题，如工艺偏差、器件一致性等，为提高芯片生产良率提供有力支持。
采用了高稳定性的硬件设计，内部电路经过精心优化，选用高品质的电子元器件和稳定的电源模块。在半导体生产线上，环境复杂多变，存在电磁干扰、温度波动等不利因素，2638B凭借其出色的抗干扰能力和稳定的性能，能够在恶劣环境下持续稳定工作，确保测试数据的准确性和一致性，为生产过程的质量控制提供可靠保障。
操作界面简洁直观，易于工程师上手操作。通过前面板的按键和显示屏，可方便地进行参数设置和测量操作。此外，它还具备良好的兼容性，能够与各种半导体测试系统无缝集成，无论是自动化测试设备，还是实验室自主搭建的测试平台，2638B都能轻松适配，提高测试系统的整体效率。
吉时利拥有专业的技术支持团队，为用户提供全方位的技术服务。在设备安装调试阶段，技术人员会现场指导，确保2638B能够正确安装并投入使用。在使用过程中，用户若遇到任何技术问题，可随时联系技术支持团队，他们会迅速响应并提供解决方案，帮助用户解决测试过程中遇到的难题。
建立了完善的售后服务体系，为设备提供长期的维护和保养服务。定期回访用户，了解设备使用情况，及时解决潜在问题。同时，储备充足的备品备件，确保在设备出现故障时能够快速更换，减少停机时间，保障用户的测试工作不受影响。 吉时利2638B源测量单元凭借高精度测量、丰富功能、稳定可靠的特性以及专业的服务，成为半导体测试领域当之无愧的黄金标准。它为半导体产业的发展提供了关键支撑，助力企业和科研机构在半导体技术的道路上不断探索前行，推动整个行业迈向更高的发展水平。
